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菲希爾XAN215 FISCHER X射線測厚儀核心定位與測量原理

定位：經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式能量色散 X 射線熒光（EDXRF）儀器，主打珠寶、錢幣、貴金屬的無損成分分析 + 鍍層厚度測量，符合 DIN ISO 3497、ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)；

原理：基于基本參數(shù)法（FP），無需標(biāo)準(zhǔn)片即可分析固體 / 液體 / 鍍層體系；非接觸、無損傷，保護(hù)高價(jià)值樣品；

結(jié)構(gòu)：上開式防護(hù)罩，測量方向從下往上；內(nèi)置帶十字線的視頻顯微鏡，便于精準(zhǔn)定位測點(diǎn)。

典型應(yīng)用

珠寶 / 貴金屬：金、銀、鉑、銠等合金成分快速檢測（如 K 金純度）、鍍層測厚（鍍金、銠鍍層）；

錢幣 / 飾品：古董幣、紀(jì)念幣的材質(zhì)鑒定；

電子 / 電鍍：簡單多層電鍍體系（如 Cu/Ni/Au）的厚度與成分監(jiān)控；

牙科合金：義齒等貴金屬合金成分分析。