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菲希爾涂層非接觸X射線測厚儀 菲希爾涂層非接觸 X 射線測厚儀基于 X 射線與物質的相互作用原理。當 X 射線照射到被測物體表面時，一部分 X 射線會被涂層吸收和散射，另一部分則會穿透涂層到達基體。通過測量穿透涂層的 X 射線強度，并與已知厚度的標準樣品進行對比，就可以精確計算出涂層的厚度。

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500是德國菲希爾公司 (Helmut Fischer GmbH) 研發(fā)的旗艦級便攜式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀，專為涂層厚度精確測量和材料成分分析設計，被譽為 “市場上精確的手持式 XRF 分析儀“。

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